Анализ расположения эталонов

Процедура «Анализ расположения эталонов» указывает пользователю на метод распознавания, который будет адекватен для конкретных данных, определяется тип взаимного расположения областей эталонов первого и второго классов, рассчитывается мера их пересечения либо мера удаленности друг от друга.

Назначение

Анализ взаимного расположения двух эталонных классов в признаковом пространстве для определения адекватного алгоритма распознавания.

Условия применимости

  1. ТОС должна содержать эталонное свойство.
  2. Эталонное свойство может принимать значения 1 и 2(что отражает принадлежность объекта к одному из двух классов). Пропуск отражает то, что объект не принадлежит ни к одному из двух классов. Объекты, эталонное свойство которых отличается от 1 и 2, будут пропускаться, поскольку рассматриваются только два класса.
  3. Каждый класс должен быть представлен достаточным количеством объектов. Необходимо, чтобы суммарное количество объектов первого и второго класса было не меньше количества свойств.
  4. Предварительно должен быть проведен анализ данных (свойства не должны содержать аномальных значений, а их распределения должны быть приблизительно симметричны, маловариабельные свойства должны быть исключены).

Результат анализа

В результате анализа выдается следующая информация о данных:


Количество эталонных объектов первого и второго классов, которое было использовано в расчете.


Тип расположения эталонных классов в признаковом пространстве. Существуют следующие варианты расположения:


Мера пересечения эталонных классов (либо мера удаленности, если эталонные классы не пересекаются) принимает значения от 0 до 100.